走査型電子顕微鏡（SEM）　観察・撮影

目的

走査型電子顕微鏡は、観察試料に電子線を当てることで試料表面から放出される電子などを検出して像を得ます。光学顕微鏡よりも高倍率での観察が可能なため、試料表面の状態を詳しく観察するのに適しています。

※繊維製品以外の観察も承っておりますので、お気軽にお問い合わせください。
※試料に関する種類・注意事項等ございましたら、依頼書にご記入下さい。
※このように撮影してほしいといったイメージ図や見本画像などがありましたら、事前にお知らせください。